logo
Хорошая цена  онлайн

Подробная информация о продукции

Created with Pixso. Дом Created with Pixso. продукты Created with Pixso.
Вафля кремниевого карбида
Created with Pixso.

8-дюймовая кремниево-карбидная эпитаксиальная пластина (SiC Epi Wafer)

8-дюймовая кремниево-карбидная эпитаксиальная пластина (SiC Epi Wafer)

Наименование марки: ZMSH
Номер модели: SiC Epi пластина
MOQ: 1
цена: by case
Детали упаковки: Пользовательские коробки
Условия оплаты: Т/Т
Подробная информация
Место происхождения:
Китай
Поставка способности:
По случаю
Выделить:

8-дюймовая пластина из карбида кремния

,

Си-Си эпитаксиальная пластина

,

пластина из карбида кремния с гарантией

Характер продукции

Обзор продукта

8-дюймовая эпитаксиальная пластина из карбида кремния (SiC) представляет собой высокопроизводительный полупроводниковый материал, разработанный для силовых электронных устройств следующего поколения. На основе высококачественных 8-дюймовых подложек из SiC эпитаксиальный слой выращивается с использованием передовой технологии химического осаждения из газовой фазы (CVD) для достижения точной толщины, контроля легирования и превосходного кристаллического качества.

 

По сравнению с традиционными кремниевыми пластинами, эпитаксиальные пластины из SiC обладают выдающимися электрическими, тепловыми и механическими свойствами, что делает их идеальными для высоковольтных, высокочастотных и высокотемпературных применений.

 

8-дюймовая кремниево-карбидная эпитаксиальная пластина (SiC Epi Wafer) 0     8-дюймовая кремниево-карбидная эпитаксиальная пластина (SiC Epi Wafer) 1


Принцип работы

Эпитаксиальный слой SiC осаждается на полированную подложку SiC в процессе высокотемпературного CVD. Во время роста:

  • Газы, содержащие кремний и углерод, реагируют при повышенных температурах
  • Однокристаллический слой SiC формируется по решетке подложки
  • Вводятся легирующие газы (N-типа или P-типа) для контроля электрических свойств

Этот эпитаксиальный слой служит активной областью для изготовления устройств, обеспечивая точный контроль характеристик устройства, таких как напряжение пробоя и сопротивление во включенном состоянии.

 

8-дюймовая кремниево-карбидная эпитаксиальная пластина (SiC Epi Wafer) 2

 


Ключевые особенности

  • Большой диаметр (8 дюймов / 200 мм): Поддерживает высокообъемное производство и снижение затрат
  • Низкая плотность дефектов: Минимизирует микротрубки и дислокации
  • Отличная однородность толщины: Обеспечивает стабильную производительность устройства
  • Точный контроль легирования: Поддерживает индивидуальные электрические характеристики
  • Высокая теплопроводность: Подходит для мощных приложений
  • Широкая запрещенная зона (~3,26 эВ): Обеспечивает работу при высоких температурах и высоком напряжении

 


Типичные характеристики

8-дюймовая кремниево-карбидная эпитаксиальная пластина (SiC Epi Wafer) 3 

Элемент Спецификация
Диаметр пластины 8 дюймов (200 мм)
Тип подложки 4H-SiC
Тип проводимости N-тип / Полуизолирующий
Толщина эпитаксиального слоя 5 – 100 мкм (настраиваемая)
Концентрация легирования 1E14 – 1E19 см⁻³
Однородность толщины ≤ ±5%
Шероховатость поверхности Ra ≤ 0,5 нм
Плотность дефектов Низкая плотность микротрубок
Ориентация 4° вне оси или на оси
 

 

 

 


Применения

8-дюймовые эпитаксиальные пластины из SiC широко используются в передовых силовых и ВЧ-устройствах, включая:

  • Электромобили (EV): Инверторы, бортовые зарядные устройства
  • Системы возобновляемой энергетики: Солнечные инверторы, преобразователи ветровой энергии
  • Промышленные силовые модули: Высокоэффективные приводы двигателей
  • Системы быстрой зарядки: Высокочастотные коммутирующие устройства
  • Устройства 5G и ВЧ: Высокомощные ВЧ-усилители

 8-дюймовая кремниево-карбидная эпитаксиальная пластина (SiC Epi Wafer) 4     8-дюймовая кремниево-карбидная эпитаксиальная пластина (SiC Epi Wafer) 5


Преимущества перед кремнием

  • Более высокое электрическое поле пробоя (≈ в 10 раз выше, чем у кремния)
  • Более низкие потери при переключении
  • Более высокая рабочая температура (>200°C)
  • Улучшенная энергоэффективность
  • Уменьшенные размеры системы и требования к охлаждению

 


Производственный процесс

Производство 8-дюймовых эпитаксиальных пластин из SiC включает:

  1. Подготовка подложки – Полировка и очистка высокочистых пластин из SiC
  2. Эпитаксиальный рост (CVD) – Контролируемое осаждение слоя SiC
  3. Контроль легирования – Точное введение легирующих примесей
  4. Обработка поверхности – Полировка CMP для сверхгладкой поверхности
  5. Контроль и тестирование – Проверка толщины, дефектов и электрических свойств

 


FAQ

В1: В чем разница между подложкой из SiC и эпитаксиальной пластиной из SiC?

О: Подложка — это базовый материал, а эпитаксиальный слой — функциональный слой, на котором изготавливаются устройства.

 

В2: Можно ли настроить толщину эпитаксиального слоя и легирование?

О: Да, как толщина, так и концентрация легирования могут быть настроены в соответствии с требованиями устройства.

 

В3: Почему стоит выбрать 8-дюймовые пластины из SiC?

О: Больший размер пластины повышает эффективность производства и снижает стоимость одного устройства, поддерживая массовое производство.