| Наименование марки: | ZMSH |
| MOQ: | 1 |
| цена: | by case |
| Детали упаковки: | изготовленные на заказ коробки |
| Условия оплаты: | Т/Т |
Эпитаксиальные пластины SiC в настоящее время становятся самым передовым форм-фактором в индустрии SiC. Представляя передовые достижения в области материаловедения и производства, 8-дюймовые эпитаксиальные пластины SiC открывают беспрецедентные возможности для увеличения производства силовых устройств при одновременном снижении стоимости одного устройства.
Поскольку спрос на электромобили, возобновляемые источники энергии и промышленную силовую электронику продолжает расти во всем мире, пластины позволяют создавать новое поколение SiC MOSFET, диодов и интегрированных силовых модулей с более высокой пропускной способностью, лучшим выходом и более низкими производственными затратами.
Благодаря широкой запрещенной зоне, высокой теплопроводности и исключительному напряжению пробоя пластины SiC открывают новый уровень производительности и эффективности в современной силовой электронике.
![]()
![]()
Как изготавливаются эпитаксиальные пластины SiC
Производство эпитаксиальных пластин SiC требует CVD-реакторов нового поколения, точного контроля роста кристаллов и технологии сверхплоских подложек:
Изготовление подложки
Монокристаллические подложки SiC производятся с помощью методов высокотемпературной сублимации и впоследствии полируются до субнанометровой шероховатости.
Эпитаксиальный рост CVD
Усовершенствованные крупномасштабные инструменты CVD работают при температуре ~1600 °C для нанесения высококачественных эпитаксиальных слоев SiC на 8-дюймовые подложки с оптимизированным потоком газа и однородностью температуры для обработки большей площади.
Индивидуальный допинг
Профили легирования N-типа или P-типа создаются с высокой однородностью по всей пластине диаметром 300 мм.
Прецизионная метрология
Контроль однородности, мониторинг дефектов кристаллов и управление процессами на месте обеспечивают согласованность от центра пластины до края.
Комплексная гарантия качества
Каждая пластина проверяется с помощью:
АСМ, комбинационное рассеяние света и рентгеноструктурный анализ
Картирование дефектов всей пластины
Анализ шероховатости поверхности и деформации
Измерения электрических свойств
| Оценка | 8-дюймовый SiCSubstrate типа N | ||
| 1 | Политип | -- | 4HSiC |
| 2 | Тип проводимости | -- | Н |
| 3 | Диаметр | мм | 200,00±0,5 мм |
| 4 | Толщина | хм | 700±50 мкм |
| 5 | КристаллПоверхностьОриентацияОсь | степень | 4,0° в направлении ±0,5° |
| 6 | Глубина выреза | мм | 1~1,25 мм |
| 7 | Неориентация | степень | ±5° |
| 8 | Сопротивление (среднее) | Омсм | NA |
| 9 | ТТВ | хм | NA |
| 10 | Общая ценность | хм | NA |
| 11 | Поклон | хм | NA |
| 12 | Деформация | хм | NA |
| 13 | MPD | см-2 | NA |
| 14 | ТСД | см-2 | NA |
| 15 | БЛД | см-2 | NA |
| 16 | ТЕД | см-2 | NA |
| 17 | ЭПД | см-2 | NA |
| 18 | ИностранныеПолитипы | -- | NA |
| 19 | SF(BSF)(размер сетки 2x2 мм) | % | NA |
| 20 | TUA(TotalUsableArea)(размер сетки 2x2 мм) | % | NA |
| 21 | Номинальное исключение края | мм | NA |
| 22 | Визуальные царапины | -- | NA |
| 23 | Совокупная длина царапин (SiSurface) | мм | NA |
| 24 | Сифейс | -- | CMPполированный |
| 25 | CFace | -- | CMPполированный |
| 26 | Шероховатость поверхности(Siface) | нм | NA |
| 27 | Шероховатость поверхности (Cface) | нм | NA |
| 28 | лазерная маркировка | -- | CFлицо, над вырезом |
| 29 | Edgechip (передняя и задняя поверхности) | -- | NA |
| 30 | Шестнадцатеричные пластины | -- | NA |
| 31 | Трещины | -- | NA |
| 32 | Частица (≥0,3 мкм) | -- | NA |
| 33 | Загрязнение (пятна) | -- | Нет:Оба лица |
| 34 | Остаточные загрязнения металлов (ICP-MS) | атом/см2 | NA |
| 35 | Краевой профиль | -- | Фаска, R-образная форма |
| 36 | Упаковка | -- | Multi-waferCassetteOrSingleWaferContainer |
Эпитаксиальные пластины SiC позволяют массово производить надежные силовые устройства в таких отраслях, как:
Электромобили (EV)
Тяговые инверторы, бортовые зарядные устройства и преобразователи постоянного тока в постоянный.
Возобновляемая энергия
Солнечные струнные инверторы, преобразователи энергии ветра.
Промышленные приводы
Эффективные моторные приводы, сервосистемы.
5G/РЧ инфраструктура
Усилители мощности и радиочастотные переключатели.
Бытовая электроника
Компактные высокоэффективные источники питания.
1. В чем преимущество 8-дюймовых пластин SiC?
Они значительно снижают себестоимость производства одного чипа за счет увеличения площади пластины и производительности процесса.
2. Насколько развито производство 8-дюймовых SiC?
8» приступает к пилотному производству с избранными лидерами отрасли — наши пластины уже доступны для исследований и разработок, а также для увеличения объемов продаж.
3. Можно ли настроить легирование и толщину?
Да, доступна полная настройка профиля допинга и толщины слоя эпиляции.
4. Совместимы ли существующие заводы с 8-дюймовыми пластинами SiC?
Для полной совместимости с 8-дюймовыми дисплеями необходимы незначительные обновления оборудования.
5. Каково типичное время выполнения заказа?
6–10 недель для первоначальных заказов; короче для повторных томов.
6. Какие отрасли быстрее всего внедрят 8-дюймовый SiC?
Автомобильная промышленность, возобновляемые источники энергии и сетевая инфраструктура.
Сопутствующие товары